円二色性分散計

円二色性分散計

設置年:2016

日本分光 J-1500

自己測定 学内 学外
600MHz NMR装置

600MHz NMR装置

設置年:2019

JEOL社 JNMECZ600R

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CCD極微小単結晶自動X線構造解析装置

CCD極微小単結晶自動X線構造解析装置

設置年:2011

理学電機 ValiMax with Saturn

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400MHz NMR装置

400MHz NMR装置

設置年:2010

Varian 400-MR ASW

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600MHz NMR装置

600MHz NMR装置

設置年:2010

Varian NMR System PS600

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イオントラップ型質量分析装置/LCシステム(高性能気液相導入質量分析装置)

イオントラップ型質量分析装置/LCシステム(高性能気液相導入質量分析装置)

設置年:2009

Bruker Daltonics, HCT

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HPLC-Chip/QTOF質量分析システム

HPLC-Chip/QTOF質量分析システム

設置年:2009

アジレントテクノロジー社 G6520型+G4240型

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ペプチドシーケンサー

ペプチドシーケンサー

設置年:2009

島津・PPSQ-31A型

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水平型粉末X線回折装置

水平型粉末X線回折装置

設置年:2009

試料水平型回転対陰極式X線回折装置 ㈱リガク製(RINT-TTRⅢ-MTA) X線発生装置(18K

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微小単結晶構造回折装置

微小単結晶構造回折装置

設置年:2009

極微小結晶対応IP単結晶X線回折装置㈱リガク製 RAPIDⅡWITH VARIMAX-CU システム,微小点X線発生装置(RA-MIC

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薄膜試料X線回折装置

薄膜試料X線回折装置

設置年:2009

薄膜評価用試料水平型X線回折装置㈱リガク製 SMARTLAB-PRO,高輝度X線発生装置(9KW、CUロータターゲット),試料水

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元素分析装置

元素分析装置

設置年:2004

パーキン・エルマー社2400II

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飛行時間型質量分析装置(高性能気液相導入質量分析装置)

飛行時間型質量分析装置(高性能気液相導入質量分析装置)

設置年:2009

Bruker Daltonics, micrOTOF II

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鉄材料用高速X線回折装置

鉄材料用高速X線回折装置

設置年:2014

リガク製 試料水平型多目的X線回折装置 UltimaIV
(2007年製)

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3次元光学プロファイラーシステム

3次元光学プロファイラーシステム

設置年:2009

Zygo社製 Newview 7300

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原子吸光分光光度計-オートサンプラ付

原子吸光分光光度計-オートサンプラ付

設置年:2005

島津製作所 AA-6300

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高性能走査プローブ顕微鏡

高性能走査プローブ顕微鏡

設置年:2014

Bruker 社製 高性能原子間力顕微鏡 マルチモード8型AFM

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電子プローブマイクロアナライザー

電子プローブマイクロアナライザー

設置年:2009

日本電子㈱製 JXA8230

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タイムラプス計測システム

タイムラプス計測システム

設置年:2007

キーエンス 蛍光顕微鏡 BZ-9000他

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CNC精密表面形状測定機

CNC精密表面形状測定機

設置年:1997

大阪精密 CLP-35

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電子スピン共鳴装置

電子スピン共鳴装置

設置年:1995

ESP300

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微細構造リモート観察システム1. 走査電子顕微鏡(SEM)

微細構造リモート観察システム1. 走査電子顕微鏡(SEM)

設置年:2022年

株式会社日立ハイテク SU9000型

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微細構造リモート観察システム2-1. (光学顕微鏡)

微細構造リモート観察システム2-1. (光学顕微鏡)

設置年:2022

Olympus・FV3000型

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表面電離型質量分析装置

表面電離型質量分析装置

設置年:1995

フィニガン・マット・インスツルメンツ・インク製 MAT262

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