円二色性分散計

円二色性分散計

設置年:2017

日本分光 J-1500

自己測定 学内 学外
鉄材料用高速X線回折装置

鉄材料用高速X線回折装置

設置年:2014

リガク製 試料水平型多目的X線回折装置 UltimaIV
(2007年製)

自己測定 依頼測定 学内 学外
高性能走査プローブ顕微鏡

高性能走査プローブ顕微鏡

設置年:2014

Bruker 社製 高性能原子間力顕微鏡 マルチモード8型AFM

自己測定 学内 学外
電子線描画装置

電子線描画装置

設置年:2014

エリオニクス社・ELS-S50KB

自己測定 学内
集束イオンビーム加工装置

集束イオンビーム加工装置

設置年:2014

日立、FB-2000
(平成7年 原取)

自己測定 学内
クリーンルーム用薄膜X線回折装置

クリーンルーム用薄膜X線回折装置

設置年:2014

パナリティカル社
Xpert-PRO MRDシステム
(平成15年 原取)

学内
高真空抵抗加熱蒸着装置

高真空抵抗加熱蒸着装置

設置年:2014

旭商会
(平成17年 原取)

自己測定 学内
エッチング装置

エッチング装置

設置年:2014

キャノンアネルバ(株)
L-210-L
(平成8年 原取)

自己測定 学内
デジタルマイクロスコープ

デジタルマイクロスコープ

設置年:2013

キーエンス社・VHX-2000SP(1554)型
リニアスライサー: 堂阪イーエム(株)製

自己測定 学内
生物用共焦点レーザー走査顕微鏡システム (高解像度画像解析システム)

生物用共焦点レーザー走査顕微鏡システム (高解像度画像解析システム)

設置年:2013

生物用共焦点レーザ走査型顕微鏡
オリンパス(株)製 FV1200-IX83

レンダリング/解析システム
アンドール・テクノロジーPLC社製

自己測定 学内 学外
連続フロー型同位体比質量分析計

連続フロー型同位体比質量分析計

設置年:2013

Thermo Fisher Scientific・Delta V advantage

自己測定 学内
単結晶X線構造解析装置 (CCD極微小単結晶自動X線構造解析装置)

単結晶X線構造解析装置 (CCD極微小単結晶自動X線構造解析装置)

設置年:2011

リガク製 VariMax with Saturn

自己測定 依頼測定 学内 学外
400MHz NMR装置

400MHz NMR装置

設置年:2010

Varian 400-MR ASW

自己測定 依頼測定 学内 学外
600MHz NMR装置

600MHz NMR装置

設置年:2010

Varian NMR System PS600

自己測定 依頼測定 学内 学外
HPLC-Chip/QTOF質量分析システム

HPLC-Chip/QTOF質量分析システム

設置年:2009

アジレントテクノロジー社 G6520型+G4240型

自己測定 依頼測定 学内 学外
ペプチドシーケンサー

ペプチドシーケンサー

設置年:2009

島津・PPSQ-31A型

自己測定 依頼測定 学内 学外
水平型粉末X線回折装置

水平型粉末X線回折装置

設置年:2009

試料水平型回転対陰極式X線回折装置 (株)リガク製(RINT-TTR・-MTA) X線発生装置(18K

自己測定 依頼測定 学内 学外
微小結晶単結晶X線構造解析装置 (微小単結晶構造回折装置)

微小結晶単結晶X線構造解析装置 (微小単結晶構造回折装置)

設置年:2009

極微小結晶対応IP単結晶X線回折装置(株)リガク製 RAPIDII WITH VARIMAX-CU システム,微小点X線発生装置(RA-MIC

自己測定 依頼測定 学内 学外
薄膜試料X線回折装置

薄膜試料X線回折装置

設置年:2009

薄膜評価用試料水平型X線回折装置(株)リガク製 SMARTLAB-PRO,高輝度X線発生装置(9KW、CUロータターゲット),試料水

自己測定 依頼測定 学内 学外
電子プローブマイクロアナライザー

電子プローブマイクロアナライザー

設置年:2009

日本電子(株)製 JXA8230

自己測定 学内 学外
3次元光学プロファイラーシステム

3次元光学プロファイラーシステム

設置年:2009

Zygo社製 Newview 7300

自己測定 学内
生体高分子用X線回折装置

生体高分子用X線回折装置

設置年:2009

RA-Micro7HFM

自己測定 学内
高分解能質量分析装置

高分解能質量分析装置

設置年:2009

日本電子(株)JMS-700

自己測定 学内
SQUID-VSM (SQUID式磁化測定装置)

SQUID-VSM (SQUID式磁化測定装置)

設置年:2009

米国カンタム・デザイン社MPMS-SQUID VSM 7テスラ磁気特性測定システム

自己測定 学内
走査型顕微鏡 (走査電子顕微鏡SEM, エネルギー分散型X線分析装置含む)

走査型顕微鏡 (走査電子顕微鏡SEM, エネルギー分散型X線分析装置含む)

設置年:2008

本体:
キーエンス SEM VE-9800、
分析装置:
EDAX社 EDX検出装置

自己測定 学内
タイムラプス計測システム

タイムラプス計測システム

設置年:2007

キーエンス 蛍光顕微鏡 BZ-9000他

自己測定 学内 学外
原子吸光分光光度計

原子吸光分光光度計

設置年:2005

島津製作所 AA-6300

自己測定 学内 学外
レーザーイオン化四重極イオントラップ飛行時間型質量分析装置

レーザーイオン化四重極イオントラップ飛行時間型質量分析装置

設置年:2005

島津製作所
AXIMA-QIT

自己測定 学内
元素分析装置

元素分析装置

設置年:2004

パーキン・エルマー社2400II

自己測定 依頼測定 学内 学外
300MHz NMR装置

300MHz NMR装置

設置年:2002

Varian Mercury-300

自己測定 依頼測定 学内 学外
ICP発光分光分析装置

ICP発光分光分析装置

設置年:2002

セイコーインスツルメンツ製 VISTA-PRO

自己測定 学内 学外
超精密現象デジタル解析装置

超精密現象デジタル解析装置

設置年:2002

Talor Hobson社製 Talyscan他

自己測定 部局内限定
表面粗さ測定器

表面粗さ測定器

設置年:1998

ミツトヨ SV-524

自己測定 学内 学外
CNC精密表面形状測定機

CNC精密表面形状測定機

設置年:1997

大阪精密 CLP-35

自己測定 学内 学外
CW-ESR装置(電子スピン共鳴装置)

CW-ESR装置(電子スピン共鳴装置)

設置年:1995

ESP300

自己測定 学内 学外
表面電離型質量分析装置

表面電離型質量分析装置

設置年:1995

フィニガン・マット・インスツルメンツ・インク製 MAT262

自己測定 学内 学外
SQUID式磁化測定装置(磁化測定分析装置)

SQUID式磁化測定装置(磁化測定分析装置)

設置年:1993

Quantum Desiga社 MPM2

自己測定 学内