Bruker 社製 高性能原子間力顕微鏡 マルチモード8型AFM

高性能走査プローブ顕微鏡

高性能走査プローブ顕微鏡

概要

試料表面を細い針で走査することにより、試料表面の凹凸や硬さ、電気的な情報を比較的簡単に測定することができます。

装置の仕様・特色

測定可能モード
コンタクトモードAFM、共振AFM(タッピングモード)、ピークフォースAFM(ダイレクトフォースコントロールAFM)、位相モード、摩擦力顕微鏡モード、フォースカーブ、フォースボリューム、電気力顕微鏡モード、表面電位顕微鏡モード、KPFMモード(機械特性と表面電位同時取得)

測定可能サイズ
 高性能スキャナ (10x10x2.5um)
 広範囲スキャナ (125x125x5um)
測定環境
 大気中、液中、加熱・冷却環境 (-35℃から250℃まで)

自己測定 学内 学外
設置年 2014
装置カテゴリ 5.顕微鏡・イメージング
適合分野 物理学系
管理部局 自然科学研究科(工)
使用責任者

自然科学研究科
内田 哲也 (内線8103)

拠点

03.自然生命科学研究支援センター 分析計測・極低温部門

共同利用について

利用にあたっての留意事項

使用法について指導を受ける,予約制

費用負担

使用時間に応じた費用負担

学内:ご相談ください。
学外: 650円/0.25時間

プローブ等の消耗品は、各利用者で準備していただきます。

http://dia.kikibun.okayama-u.ac.jp/files/upload/files/20170321_dia_fee_all.pdf
自己測定利用法

利用資格: 装置管理責任者によって教育を受け,使用の了解を得た者。

利用の申請: 管理責任者に申し出る。

管理責任者・監守者

管理責任者 (自然科学研究科, 内田哲也, 8103)

監守者 (自然科学研究科, 内田哲也, 8103)

その他

プローブは使用者各自で準備してください。
利用料金は後日、決定、連絡いたします。

利用方法や利用規程 http://dia.kikibun.okayama-u.ac.jp/files/upload/files/dia/kitei_riyouyoukou.pdf
機器利用の申込・お問い合わせ

設置場所

コラボレーションセンター 3階 309号室

309
内線:8749
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