日本電子(株)製 JXA8230

電子プローブマイクロアナライザー

電子プローブマイクロアナライザー

概要

本装置は、集束された電子ビームを固体試料の表面に照射し、発生する特性X線を分光結晶により回折して、その波長と強度を測定することによって、非破壊で試料に含まれる元素の定性、定量分析を行うものである。

装置の仕様・特色

1) 波長分散型X線分光器4基とエネルギー分散型X線検出器を装備し、それぞれの 長所を活かした利用の仕方ができ、且つ両者のデータを同時に処理できる。
2) 電子銃にWフィラメントとLaB6フィラメントが使用できる。
3) 薄片試料の透過光観察が可能な透過照明装置を装備している。

自己測定 学内 学外
設置年 2009
装置カテゴリ 5.顕微鏡・イメージング
適合分野 化学系
管理部局 理学部
使用責任者

理学部(地)
野坂 俊夫 (内線 7883)

拠点

03. 自然生命科学研究支援センター  分析計測・極低温部門

共同利用について

利用にあたっての留意事項

使用責任者の指示に従って使用

費用負担

(29年度)

自己測定のみ (学内のみ): 1,000円/1日

http://dia.kikibun.okayama-u.ac.jp/files/upload/files/20170321_dia_fee_all.pdf
自己測定利用法

利用資格: 原則として利用講習を受講済の者。
利用の申請: 初めて利用する場合は,機器管理責任者か監守者に申請する。その他 の場合は, 分析計測分野WEBぺージの 機器予約システム を 用いて申請する。

管理責任者・監守者

機器管理責任者
 理学部地球科学科 准教授 野坂俊夫 (内7883)
監守者 
 理学部地球科学科 准教授 野坂俊夫 (内7883)

利用方法や利用規程 http://dia.kikibun.okayama-u.ac.jp/files/upload/files/dia/kitei_riyouyoukou.pdf
予約するお問い合わせ

設置場所

コラボレーションセンター 3階 311号室

311
内線:8750
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