日本電子㈱製 JXA8230
本装置は、集束された電子ビームを固体試料の表面に照射し、発生する特性X線を分光結晶により回折して、その波長と強度を測定することによって、非破壊で試料に含まれる元素の定性、定量分析を行うものである。Keyword: 化学,固体,元素,分析,電子,X線
1) 波長分散型X線分光器4基とエネルギー分散型X線検出器を装備し、それぞれの 長所を活かした利用の仕方ができ、且つ両者のデータを同時に処理できる。
2) 電子銃にWフィラメントとLaB6フィラメントが使用できる。
3) 薄片試料の透過光観察が可能な透過照明装置を装備している。
設置年 | 2009 |
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装置カテゴリ | |
適合分野 | 化学・地学系 |
管理部局 | 理学部 |
使用責任者 | 理学部(地) |
拠点 | 03. 自然生命科学研究支援センター 分析計測・極低温部門 |
利用にあたっての留意事項 | 使用責任者の指示に従って使用 |
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費用負担 |
使用時間に応じた費用負担が必要 |
自己測定利用法 |
利用資格: 原則として利用講習を受講済の者。 |
管理責任者・監守者 |
理学部地球科学科 野坂 俊夫 (内線 7883) |
利用方法や利用規程 | http://dia.kikibun.okayama-u.ac.jp/files/upload/files/dia/kitei_riyouyoukou.pdf |