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各種資料など

分析計測分野の設置機器

部屋番号 測定室内線 機器名 予約システム（リンク） 問合せ先（リンク）
101 8737 3次元光学プロファイラーシステム 予約する 共同利用
101 8737 CNC精密表面形状測定機 予約する 共同利用
101 8737 超精密現象デジタル解析装置 予約する 共同利用
101 8737 先端機素表面・性能システム 1-1.走査型電子顕微鏡システム 予約する 共同利用
101 8737 先端機素表面・性能システム 1-2.三次元測定レーザー顕微鏡システム 予約する 共同利用
102 8736 600MHz　NMR装置 予約する 共同利用依頼測定
102 8736 400MHz　NMR装置 予約する 共同利用
102 8736 600MHz　NMR装置 予約する 共同利用依頼測定
206 8744 エッチング装置 予約する 共同利用
206 8744 クリーンルーム用薄膜X線解析装置 予約する 共同利用
208 8744 高真空抵抗加熱蒸着装置 予約する 共同利用
208 8744 電子線描画装置 予約する 共同利用
208 8744 抵抗加熱酸化膜蒸着装置 予約する 共同利用
210 8738 デジタルマイクロスコープ 予約する 共同利用
210 8738 顕微鏡画像解析装置 予約する 共同利用
210 8738 微細構造リモート観察システム2-1. (光学顕微鏡) 予約する 共同利用
211 8739 遠心エバポレーター(分析試料濃縮用) 予約する 共同利用
212 8741 元素分析装置 予約する 共同利用依頼測定
212 8741 原子吸光分光光度計-オートサンプラ付 予約する 共同利用
213 8742 生体高分子用X線回折装置 予約する 共同利用
213 8742 タンパク質結晶化自動観察装置 予約する 共同利用
214 8743 レーザーラマン分光光度計 予約する 共同利用
214 8743 鉄材料用高速X線回折装置 予約する 共同利用依頼測定
214 8743 水平型粉末X線回折装置 予約する 共同利用依頼測定
214 8743 微小単結晶構造回折装置 予約する 共同利用依頼測定
214 8743 薄膜試料X線回折装置 予約する 共同利用依頼測定
214 8743 レーザーラマン分光光度計(ナノ物性高精度合成評価システム) 予約する 共同利用依頼測定
309 8749 SQUID式磁化測定装置 共同利用依頼測定
309 8749 高性能走査プローブ顕微鏡 共同利用
309 8749 走査電子顕微鏡(SEM)(エネルギー分散型X線分析装置含む) 共同利用
310 8749 磁化測定分析装置 共同利用
310 8749 電子スピン共鳴装置 共同利用
311 8750 表面電離型質量分析装置 共同利用
311 8750 電子プローブマイクロアナライザー 予約する 共同利用
312 8751 連続フロー型同位体比質量分析計 予約する 共同利用
312 8751 ガスクロマトグラフ質量分析装置(高性能気液相導入質量分析装置) 予約する 共同利用依頼測定
312 8751 HPLC-Chip/QTOF質量分析システム 予約する 共同利用依頼測定
312 8751 ペプチドシーケンサー 予約する 共同利用依頼測定
313 8752 円二色性分散計 予約する 共同利用
大学院棟 106 8585 高分解能質量分析装置 予約する 共同利用依頼測定
大学院棟 108 8585 イオントラップ型質量分析装置/LCシステム(高性能気液相導入質量分析装置) 予約する 共同利用依頼測定
大学院棟 108 8585 飛行時間型質量分析装置(高性能気液相導入質量分析装置) 予約する 共同利用依頼測定
大学院棟105 8585 CCD極微小単結晶自動X線構造解析装置 予約する 共同利用
工1号館-A107 なし 400MHz NMR装置 (北) 予約する 共同利用
工1号館-A108 なし 400MHz NMR装置 (南) 予約する 共同利用
新技術研究センター 107 8748 微細構造リモート観察システム1. 走査電子顕微鏡(SEM) 予約する 共同利用依頼測定

機器利用実績の集計

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