機器：岡山大学自然生命科学研究支援センター分析計測・極低温部門分析計測分野

400MHz　NMR装置

設置年:2025

JEOL JNM-ECZL400S

自己測定依頼測定学内学外

LC/QTOF質量分析システム

設置年:2024

島津製作所・LCMS-9050

自己測定依頼測定学内学外

飛行時間型質量分析装置_compact

設置年:2024

Bruker・compact / バイオクロマト・ChemZo

自己測定依頼測定学内学外

600MHz　NMR装置

設置年:2019

JEOL社 JNMECZ600R

自己測定依頼測定学内学外

CCD極微小単結晶自動X線構造解析装置

設置年:2011

理学電機 ValiMax with Saturn

自己測定依頼測定学内学外

600MHz　NMR装置

設置年:2010

Varian NMR System PS600

自己測定依頼測定学内学外

イオントラップ型質量分析装置/LCシステム(高性能気液相導入質量分析装置)

設置年:2009

Bruker Daltonics, HCT

自己測定依頼測定学内学外

ペプチドシーケンサー

設置年:2009

島津・PPSQ-31A型

自己測定依頼測定学内学外

水平型粉末X線回折装置

設置年:2009

試料水平型回転対陰極式X線回折装置㈱リガク製(RINT-TTRⅢ-MTA) X線発生装置(18K

自己測定依頼測定学内学外

微小単結晶構造回折装置

設置年:2009

極微小結晶対応IP単結晶X線回折装置㈱リガク製 RAPIDⅡWITH VARIMAX-CU システム,微小点X線発生装置(RA-MIC

自己測定依頼測定学内学外

薄膜試料X線回折装置

設置年:2009

薄膜評価用試料水平型X線回折装置㈱リガク製 SMARTLAB-PRO,高輝度X線発生装置(9KW、CUロータターゲット),試料水

自己測定依頼測定学内学外

元素分析装置

設置年:2004

パーキン・エルマー社2400II

自己測定依頼測定学内学外

微細構造リモート観察システム1. 走査電子顕微鏡(SEM)

設置年:2022年

株式会社日立ハイテク SU9000型

自己測定依頼測定学内学外

遠心エバポレーター(分析試料濃縮用)

設置年:2019

EYELA 遠心濃縮機CVE-3110/冷却トラップUT-2000/Phil ポンプ

自己測定依頼測定学内学外

ガスクロマトグラフ質量分析装置(高性能気液相導入質量分析装置)

設置年:2009

島津, QP2010 Plus

自己測定依頼測定学内

高分解能質量分析装置

設置年:2009

日本電子(株)JMS-700

自己測定依頼測定学内

SQUID式磁化測定装置

設置年:2009

米国カンタム・デザイン社MPMS-SQUID VSM 7テスラ磁気特性測定システム

自己測定依頼測定学内

走査電子顕微鏡(SEM)(エネルギー分散型X線分析装置含む)

設置年:2008

本体:
キーエンス SEM VE-9800
(資産管理番号:140015003044)
分析装置:
EDAX社 EDX検出装置
(資産管理番号:140015003092)

自己測定依頼測定学内

ICP発光分光分析装置

設置年:2024

米国ｱｼﾞﾚﾝﾄﾃｸﾉﾛｼﾞｰｽﾞ社製 Agilent 5800 VDV ICP-OES

自己測定学内学外

鉄材料用高速X線回折装置

設置年:2014

リガク製試料水平型多目的X線回折装置 UltimaIV
(2007年製)

自己測定学内学外

3次元光学プロファイラーシステム

設置年:2009

Zygo社製 Newview 7300

自己測定学内学外

原子吸光分光光度計-オートサンプラ付

設置年:2005

島津製作所 AA-6300

自己測定学内学外

微細構造リモート観察システム2-1. (光学顕微鏡)

設置年:2022

Olympus・FV3000型

自己測定学内学外

円二色性分散計

設置年:2016

日本分光 J-1500

自己測定学内学外

顕微鏡画像解析装置

設置年:2018

Oxford Instruments, Imaris 9.3

自己測定学内

400MHz NMR装置 (南)

設置年:2014

JEOL社 NM-ECS400

自己測定学内

デジタルマイクロスコープ

設置年:2013

キーエンス社・VHX-2000SP(1554)型
リニアスライサー: 堂阪イーエム(株)製

自己測定学内

400MHz NMR装置 (北)

設置年:2013

JEOL社 NM-ECS400

自己測定学内

レーザーラマン分光光度計(ナノ物性高精度合成評価システム)

設置年:2013

日本分光（株）製 NRS-5100NPS(分析計測分野移設 2023年3月)

自己測定学内学外

電子プローブマイクロアナライザー

設置年:2009

日本電子㈱製 JXA8230

自己測定学内学外

電子スピン共鳴装置

設置年:1995

ESP300

自己測定学内学外

表面電離型質量分析装置

設置年:1995

フィニガン・マット・インスツルメンツ・インク製 MAT262

自己測定学内学外

先端機素表面・性能システム 1-1.走査型電子顕微鏡システム

設置年:2022

JEOL JSM-IT800(SHL)/ Oxford ULTIM MAX, ULTIMEXTREME，SymmetryS2

自己測定学内

先端機素表面・性能システム 1-2.三次元測定レーザー顕微鏡システム

設置年:2022

エビデント OLS5100-EAT

自己測定学内

タンパク質結晶化自動観察装置

Quantum Desiga社 MPM2

自己測定学内

400MHz NMR装置

LC/QTOF質量分析システム

飛行時間型質量分析装置_compact

600MHz NMR装置

CCD極微小単結晶自動X線構造解析装置

600MHz NMR装置

イオントラップ型質量分析装置/LCシステム(高性能気液相導入質量分析装置)

ペプチドシーケンサー

水平型粉末X線回折装置

微小単結晶構造回折装置

薄膜試料X線回折装置

元素分析装置

微細構造リモート観察システム1. 走査電子顕微鏡(SEM)

遠心エバポレーター(分析試料濃縮用)

ガスクロマトグラフ質量分析装置(高性能気液相導入質量分析装置)

高分解能質量分析装置

SQUID式磁化測定装置

走査電子顕微鏡(SEM)(エネルギー分散型X線分析装置含む)

ICP発光分光分析装置

鉄材料用高速X線回折装置

3次元光学プロファイラーシステム

原子吸光分光光度計-オートサンプラ付

微細構造リモート観察システム2-1. (光学顕微鏡)

円二色性分散計

顕微鏡画像解析装置

400MHz NMR装置 (南)

デジタルマイクロスコープ

400MHz NMR装置 (北)

レーザーラマン分光光度計(ナノ物性高精度合成評価システム)

電子プローブマイクロアナライザー

電子スピン共鳴装置

表面電離型質量分析装置

先端機素表面・性能システム 1-1.走査型電子顕微鏡システム

先端機素表面・性能システム 1-2.三次元測定レーザー顕微鏡システム

タンパク質結晶化自動観察装置

抵抗加熱酸化膜蒸着装置

高性能走査プローブ顕微鏡

電子線描画装置

クリーンルーム用薄膜X線解析装置

高真空抵抗加熱蒸着装置

エッチング装置

連続フロー型同位体比質量分析計

レーザーラマン分光光度計

生体高分子用X線回折装置

超精密現象デジタル解析装置

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