1. ホーム
  2. 機器
微細構造リモート観察システム1. 走査電子顕微鏡(SEM)

微細構造リモート観察システム1. 走査電子顕微鏡(SEM)

 設置年:2022年

株式会社日立ハイテク SU9000型

自己測定 依頼測定 学内 学外
走査電子顕微鏡(SEM)(エネルギー分散型X線分析装置含む)

走査電子顕微鏡(SEM)(エネルギー分散型X線分析装置含む)

 設置年:2008

本体:
キーエンス SEM VE-9800
(資産管理番号:140015003044)
分析装置:
EDAX社 EDX検出装置
(資産管理番号:140015003092)

自己測定 依頼測定 学内
微細構造リモート観察システム2-1. (光学顕微鏡)

微細構造リモート観察システム2-1. (光学顕微鏡)

 設置年:2022

Olympus・FV3000型

自己測定 学内 学外
NO IMAGE

顕微鏡画像解析装置

 設置年:2018

Oxford Instruments, Imaris 9.3

自己測定 学内
先端機素表面・性能システム 1-1.走査型電子顕微鏡システム

先端機素表面・性能システム 1-1.走査型電子顕微鏡システム

 設置年:2022

JEOL JSM-IT800(SHL)/ Oxford ULTIM MAX, ULTIMEXTREME，SymmetryS2

自己測定 学内
先端機素表面・性能システム 1-2.三次元測定レーザー顕微鏡システム

先端機素表面・性能システム 1-2.三次元測定レーザー顕微鏡システム

 設置年:2022

エビデント OLS5100-EAT

自己測定 学内
高性能走査プローブ顕微鏡

高性能走査プローブ顕微鏡

 設置年:2014

Bruker 社製 高性能原子間力顕微鏡 マルチモード8型AFM

自己測定 学内

Service

Info

Link