微細構造リモート観察システム1. 走査電子顕微鏡(SEM)

微細構造リモート観察システム1. 走査電子顕微鏡(SEM)

設置年:2022年

株式会社日立ハイテク SU9000型

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600MHz NMR装置

600MHz NMR装置

設置年:2019

JEOL社 JNMECZ600R

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遠心エバポレーター(分析試料濃縮用)

遠心エバポレーター(分析試料濃縮用)

設置年:2019

EYELA 遠心濃縮機CVE-3110/冷却トラップUT-2000/Phil ポンプ

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CCD極微小単結晶自動X線構造解析装置

CCD極微小単結晶自動X線構造解析装置

設置年:2011

理学電機 ValiMax with Saturn

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400MHz NMR装置

400MHz NMR装置

設置年:2010

Varian 400-MR ASW

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600MHz NMR装置

600MHz NMR装置

設置年:2010

Varian NMR System PS600

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イオントラップ型質量分析装置/LCシステム(高性能気液相導入質量分析装置)

イオントラップ型質量分析装置/LCシステム(高性能気液相導入質量分析装置)

設置年:2009

Bruker Daltonics, HCT

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HPLC-Chip/QTOF質量分析システム

HPLC-Chip/QTOF質量分析システム

設置年:2009

アジレントテクノロジー社 G6520型+G4240型

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ペプチドシーケンサー

ペプチドシーケンサー

設置年:2009

島津・PPSQ-31A型

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水平型粉末X線回折装置

水平型粉末X線回折装置

設置年:2009

試料水平型回転対陰極式X線回折装置 ㈱リガク製(RINT-TTRⅢ-MTA) X線発生装置(18K

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微小単結晶構造回折装置

微小単結晶構造回折装置

設置年:2009

極微小結晶対応IP単結晶X線回折装置㈱リガク製 RAPIDⅡWITH VARIMAX-CU システム,微小点X線発生装置(RA-MIC

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薄膜試料X線回折装置

薄膜試料X線回折装置

設置年:2009

薄膜評価用試料水平型X線回折装置㈱リガク製 SMARTLAB-PRO,高輝度X線発生装置(9KW、CUロータターゲット),試料水

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飛行時間型質量分析装置(高性能気液相導入質量分析装置)

飛行時間型質量分析装置(高性能気液相導入質量分析装置)

設置年:2009

Bruker Daltonics, micrOTOF II

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ガスクロマトグラフ質量分析装置(高性能気液相導入質量分析装置)

ガスクロマトグラフ質量分析装置(高性能気液相導入質量分析装置)

設置年:2009

島津, QP2020 Plus

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高分解能質量分析装置

高分解能質量分析装置

設置年:2009

日本電子(株)JMS-700

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SQUID式磁化測定装置

SQUID式磁化測定装置

設置年:2009

米国カンタム・デザイン社MPMS-SQUID VSM 7テスラ磁気特性測定システム

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走査電子顕微鏡(SEM)(エネルギー分散型X線分析装置含む)

走査電子顕微鏡(SEM)(エネルギー分散型X線分析装置含む)

設置年:2008

本体:
キーエンス SEM VE-9800
(資産管理番号:140015003044)
分析装置:
EDAX社 EDX検出装置
(資産管理番号:140015003092)

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元素分析装置

元素分析装置

設置年:2004

パーキン・エルマー社2400II

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