微細構造リモート観察システム1. 走査電子顕微鏡(SEM)

微細構造リモート観察システム1. 走査電子顕微鏡(SEM)

設置年:2022年

株式会社日立ハイテク SU9000型

自己測定 依頼測定 学内 学外
微細構造リモート観察システム2-1. (光学顕微鏡)

微細構造リモート観察システム2-1. (光学顕微鏡)

設置年:2022

Olympus・FV3000型

自己測定 学内 学外
レーザーラマン分光光度計(ナノ物性高精度合成評価システム)

レーザーラマン分光光度計(ナノ物性高精度合成評価システム)

設置年:2013

日本分光(株)製 NRS-5100NPS(分析計測分野移設 2023年3月)

自己測定 学内 学外
CNC精密表面形状測定機

CNC精密表面形状測定機

設置年:1997

大阪精密 CLP-35

自己測定 学内 学外
先端機素表面・性能システム 1-1.走査型電子顕微鏡システム

先端機素表面・性能システム 1-1.走査型電子顕微鏡システム

設置年:2022

JEOL JSM-IT800(SHL)/ Oxford ULTIM MAX, ULTIMEXTREME,SymmetryS2

自己測定 学内
NO IMAGE

タンパク質結晶化自動観察装置

設置年:2021

FORMULATRIX社・ROCK IMAGER54システム

自己測定 学内
クリーンルーム用薄膜X線解析装置

クリーンルーム用薄膜X線解析装置

設置年:2014

パナリティカル社
Xpert-PRO MRDシステム
(平成15年 原取)

自己測定 学内
高真空抵抗加熱蒸着装置

高真空抵抗加熱蒸着装置

設置年:2014

旭商会
(平成17年 原取)

自己測定 学内
エッチング装置

エッチング装置

設置年:2014

キャノンアネルバ(株)
L-210-L
(平成8年 原取)

自己測定 学内
レーザーラマン分光光度計

レーザーラマン分光光度計

設置年:2010

日本分光(株)製 NRS-3100(分析計測分野移設 2023年3月)

自己測定 学内