走査電子顕微鏡(SEM)(エネルギー分散型X線分析装置含む)
設置年:2008本体:
キーエンス SEM VE-9800
(資産管理番号:140015003044)
分析装置:
EDAX社 EDX検出装置
(資産管理番号:140015003092)
先端機素表面・性能システム 1-1.走査型電子顕微鏡システム
設置年:2022JEOL JSM-IT800(SHL)/ Oxford ULTIM MAX, ULTIMEXTREME，SymmetryS2
自己測定 学内