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400MHz　NMR装置

400MHz　NMR装置

 設置年:2025

JEOL JNM-ECZL400S

自己測定 依頼測定 学内 学外
600MHz　NMR装置

600MHz　NMR装置

 設置年:2019

JEOL社 JNMECZ600R

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CCD極微小単結晶自動X線構造解析装置

CCD極微小単結晶自動X線構造解析装置

 設置年:2011

理学電機 ValiMax with Saturn

自己測定 依頼測定 学内 学外
600MHz　NMR装置

600MHz　NMR装置

 設置年:2010

Varian NMR System PS600

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イオントラップ型質量分析装置/LCシステム(高性能気液相導入質量分析装置)

イオントラップ型質量分析装置/LCシステム(高性能気液相導入質量分析装置)

 設置年:2009

Bruker Daltonics, HCT

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ペプチドシーケンサー

ペプチドシーケンサー

 設置年:2009

島津・PPSQ-31A型

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元素分析装置

元素分析装置

 設置年:2004

パーキン・エルマー社2400II

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微細構造リモート観察システム1. 走査電子顕微鏡(SEM)

微細構造リモート観察システム1. 走査電子顕微鏡(SEM)

 設置年:2022年

株式会社日立ハイテク SU9000型

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遠心エバポレーター(分析試料濃縮用)

遠心エバポレーター(分析試料濃縮用)

 設置年:2019

EYELA 遠心濃縮機CVE-3110/冷却トラップUT-2000/Phil ポンプ

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飛行時間型質量分析装置(高性能気液相導入質量分析装置)

飛行時間型質量分析装置(高性能気液相導入質量分析装置)

 設置年:2009

Bruker Daltonics, micrOTOF II

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ガスクロマトグラフ質量分析装置(高性能気液相導入質量分析装置)

ガスクロマトグラフ質量分析装置(高性能気液相導入質量分析装置)

 設置年:2009

島津, QP2010 Plus

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高分解能質量分析装置

高分解能質量分析装置

 設置年:2009

日本電子(株)JMS-700

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ICP発光分光分析装置

ICP発光分光分析装置

 設置年:2024

米国ｱｼﾞﾚﾝﾄﾃｸﾉﾛｼﾞｰｽﾞ社製 Agilent 5800 VDV ICP-OES

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原子吸光分光光度計-オートサンプラ付

原子吸光分光光度計-オートサンプラ付

 設置年:2005

島津製作所 AA-6300

自己測定 学内 学外
円二色性分散計

円二色性分散計

 設置年:2016

日本分光 J-1500

自己測定 学内 学外
400MHz NMR装置 (南)

400MHz NMR装置 (南)

 設置年:2014

JEOL社 NM-ECS400

自己測定 学内
400MHz NMR装置 (北)

400MHz NMR装置 (北)

 設置年:2013

JEOL社 NM-ECS400

自己測定 学内
レーザーラマン分光光度計(ナノ物性高精度合成評価システム)

レーザーラマン分光光度計(ナノ物性高精度合成評価システム)

 設置年:2013

日本分光（株）製 NRS-5100NPS(分析計測分野移設 2023年3月)

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電子プローブマイクロアナライザー

電子プローブマイクロアナライザー

 設置年:2009

日本電子㈱製 JXA8230

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表面電離型質量分析装置

表面電離型質量分析装置

 設置年:1995

フィニガン・マット・インスツルメンツ・インク製 MAT262

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先端機素表面・性能システム 1-1.走査型電子顕微鏡システム

先端機素表面・性能システム 1-1.走査型電子顕微鏡システム

 設置年:2022

JEOL JSM-IT800(SHL)/ Oxford ULTIM MAX, ULTIMEXTREME，SymmetryS2

自己測定 学内
先端機素表面・性能システム 1-2.三次元測定レーザー顕微鏡システム

先端機素表面・性能システム 1-2.三次元測定レーザー顕微鏡システム

 設置年:2022

エビデント OLS5100-EAT

自己測定 学内
NO IMAGE

タンパク質結晶化自動観察装置

 設置年:2021

FORMULATRIX社・ROCK IMAGER54システム

自己測定 学内
クリーンルーム用薄膜X線解析装置

クリーンルーム用薄膜X線解析装置

 設置年:2014

パナリティカル社
Xpert-PRO MRDシステム
(平成15年 原取)

自己測定 学内
高真空抵抗加熱蒸着装置

高真空抵抗加熱蒸着装置

 設置年:2014

旭商会
(平成17年 原取)

自己測定 学内
エッチング装置

エッチング装置

 設置年:2014

キャノンアネルバ(株)
L-210-L
(平成8年 原取)

自己測定 学内
連続フロー型同位体比質量分析計

連続フロー型同位体比質量分析計

 設置年:2013

Thermo Fisher Scientific・Delta V advantage
(F13000000003495?000)

自己測定 学内
レーザーラマン分光光度計

レーザーラマン分光光度計

 設置年:2010

日本分光(株)製 NRS-3100(分析計測分野移設 2023年3月)

自己測定 学内
生体高分子用X線回折装置

生体高分子用X線回折装置

 設置年:2009

RA-Micro7HFM

自己測定 学内

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